上海精密科學儀器-物理光學儀器
WKL-728型智能粉塵形貌分散度測試儀 市場報價:85000元
折扣價:76500元 包運費 帶13%的增票
更多優惠請撥:021-54338853咨詢
聯(lian)系人:陳(chen)輝
將(jiang)傳(chuan)統的(de)(de)顯(xian)微測量(liang)方法與現代的(de)(de)圖(tu)像處(chu)理技術相(xiang)結合,由光(guang)學(xue)顯(xian)微鏡、CCD攝像機、觸摸式電(dian)腦(nao)和顆(ke)粒圖(tu)像處(chu)理分(fen)析(xi)軟件(jian)組成。該系(xi)統通過(guo)專用的(de)(de)數字(zi)攝像機將(jiang)圖(tu)像傳(chuan)輸(shu)給電(dian)腦(nao),通過(guo)專用的(de)(de)顆(ke)粒圖(tu)像處(chu)理分(fen)析(xi)軟件(jian)對圖(tu)像進行分(fen)析(xi)處(chu)理,具(ju)有直觀、形象、準確、快速(su)和測量(liang)范圍寬(kuan)等特(te)點。
1、圖像(xiang)多種(zhong)處理方法(fa):影像(xiang)增強、圖像(xiang)疊加、局部(bu)提取、對(dui)比度(du)(du)、亮度(du)(du)調(diao)節、自動(dong)分(fen)割等幾十(shi)種(zhong)功能。
2、可直(zhi)接對(dui)粉塵粒徑的大(da)小、形(xing)狀、周(zhou)長、面積以及分布均勻狀況等各項參數進行計算分析,并完全按照國家標(biao)準(zhun)將粒徑分布定義為四個區域,即:≤2um、2um~5um、5un~10um、>10um,直(zhi)接(jie)輸出檢測(ce)報(bao)告,也可(ke)以根(gen)據用(yong)戶(hu)要求進行自定義分(fen)級。其(qi)操作方法簡單(dan)、實用(yong)、快捷,計算結(jie)果準確。
3、通過攝像技術,不僅(jin)可以保持粉(fen)塵(chen)顆粒(li)的原型,而且在(zai)對重疊粉(fen)塵(chen)的處理(li)方法上采用了(le)圖像分(fen)割技術,是粉(fen)塵(chen)分(fen)散度測(ce)定的一次質的飛躍。
儀器型(xing)號 |
WKL-728 |
測量范圍(wei) |
0.1~3000(微(wei)米) |
總放(fang)大倍數 |
8000倍 |
最大(da)分(fen)辨率 |
0.1微(wei)米/像素 |
重復性 |
誤差≤±1% |
數字攝像機(CCD) |
500萬像素 |
數據儲存 |
一體(ti)機(128G固態硬盤(pan),15寸(cun)液晶顯示器) |
通(tong)信接口(kou) |
USB/網(wang)線(xian)(xian)/無線(xian)(xian)網(wang) |
操作(zuo)系(xi)統 |
Windows 98/XP/7/8/10系統均可 |
電源 |
AC220V ±10% 200W |
儀(yi)器尺寸 |
625mm×420mm×435mm |
儀(yi)器凈重 |
25kg |