上海精密科學儀器-物理光學儀器

 WKL-722型粉塵形貌分散度測試儀  市場報價：61500元

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 聯系人(ren)：陳輝

   將傳統(tong)的顯微(wei)測量方法與現代的圖(tu)(tu)像(xiang)處(chu)理(li)技術(shu)相(xiang)結合，由光學(xue)顯微(wei)鏡、CCD攝像(xiang)機(ji)(ji)、觸摸式電腦和(he)顆粒圖(tu)(tu)像(xiang)處(chu)理(li)分(fen)析(xi)軟件組成(cheng)。該(gai)系統(tong)通過(guo)專用的數字攝像(xiang)機(ji)(ji)將圖(tu)(tu)像(xiang)傳輸給電腦，通過(guo)專用的顆粒圖(tu)(tu)像(xiang)處(chu)理(li)分(fen)析(xi)軟件對圖(tu)(tu)像(xiang)進行(xing)分(fen)析(xi)處(chu)理(li)，具有直觀(guan)、形象、準確、快速(su)和(he)測量范圍寬等特點。

1、圖像(xiang)(xiang)多種處理方法(fa)：影(ying)像(xiang)(xiang)增(zeng)強、圖像(xiang)(xiang)疊加、局部(bu)提(ti)取、對比度(du)、亮度(du)調節、自動分割等幾十種功能。

2、可(ke)直接(jie)對(dui)粉塵粒(li)徑的大小、形狀、周長(chang)、面積以及(ji)分布(bu)均勻狀況(kuang)等各項參數進行計算分析，并完(wan)全按(an)照國家標準將粒(li)徑分布(bu)定義為四個區(qu)域，即(ji)：≤2um、2um～5um、5un～10um、＞10um，直接輸出檢測報告，也可以(yi)根據用戶(hu)要求(qiu)進行自定義分級。其(qi)操(cao)作方法(fa)簡單、實(shi)用、快捷，計(ji)算結果(guo)準確(que)。

3、通過(guo)攝像技術，不僅(jin)可以保持粉(fen)(fen)塵(chen)(chen)顆(ke)粒的原型，而(er)且在對重(zhong)疊粉(fen)(fen)塵(chen)(chen)的處(chu)理方法上采用(yong)了圖像分割(ge)技術，是粉(fen)(fen)塵(chen)(chen)分散(san)度測定的一次質的飛躍(yue)。