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粒度儀系列

WKL-702型顆粒圖像分析儀

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 上海精密科學儀器-物理光學儀器

 WKL-702型顆粒圖像分析儀  市場報價:61500元

 折扣價:55300元 包運費 帶13%的增票

 更多優惠(hui)請撥:021-54338853咨詢(xun)

 聯(lian)系人(ren):陳輝

 

    將傳(chuan)統(tong)的(de)顯(xian)微測量(liang)方法與現代的(de)圖(tu)(tu)(tu)像技術相結合(he),是一種采用圖(tu)(tu)(tu)像法進行顆(ke)粒(li)(li)(li)形貌分(fen)析和(he)顆(ke)粒(li)(li)(li)測量(liang)的(de)顆(ke)粒(li)(li)(li)分(fen)析儀器,由光學顯(xian)微鏡、數字(zi)CCD攝像機和(he)顆(ke)粒(li)(li)(li)圖(tu)(tu)(tu)像處理分(fen)析軟件組(zu)成。該系統(tong)通(tong)過專(zhuan)用的(de)數字(zi)攝像機將圖(tu)(tu)(tu)像傳(chuan)輸給電腦(nao),通(tong)過專(zhuan)用的(de)顆(ke)粒(li)(li)(li)圖(tu)(tu)(tu)像處理分(fen)析軟件對(dui)圖(tu)(tu)(tu)像進行分(fen)析處理,具有直觀、形像、準確和(he)測量(liang)范圍寬等特點。

1、圖像(xiang)多種處理方法(fa):影像(xiang)增強、圖像(xiang)疊(die)加、局部提取、定(ding)倍放大、對比(bi)度、亮度調節、顆(ke)粒定(ding)位、自(zi)動分割等幾十種功能(neng)。

2、具(ju)有圓度、曲線、周長、面(mian)積、直徑等幾十種幾何參數的(de)基本測(ce)量。

3、可(ke)直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形(xing)狀等多(duo)類(lei)參(can)數,以線性或非線性統(tong)計方式繪出分布(bu)圖。


儀器型(xing)號

WKL-702

測量范(fan)圍(wei)

0.1~3000(微米(mi))

總放大倍(bei)數

8000

最大分辨率

0.1微(wei)米/像素(su)

重復性

誤差≤±1%

自動分割速度(du)

≤1秒(miao)

數字攝像機(CCD)

500萬像素

數據(ju)儲存

電腦另配

通信接(jie)口

USB

操(cao)作系統

Windows 98/XP/7/8/10系統均可

電(dian)源(yuan)

AC220V ±10% 200W

儀器尺寸

270mmX410mmX440mm

儀器凈重

15kg

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